OXFORD UNIVERSITY PRESS

Miscellany

Atomic Force Microscopy

ISBN : 9780198826286

参考価格(税込): 
¥6,275
著者: 
Peter Eaton; Paul West
ページ
256 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
171 x 246 mm
刊行日
2018年06月
Atomic force microscopy (AFM) is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it ... 続きを読む

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Atomic Force Microscopy

ISBN : 9780199570454

参考価格(税込): 
¥14,882
著者: 
Peter Eaton; Paul West
ページ
256 ページ
フォーマット
Hardcover
サイズ
174 x 256 mm
刊行日
2010年03月
Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes ... 続きを読む

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Hands-On Introduction to Labview for Scientists and Engineers (3rd edition)

ISBN : 9780190211899

参考価格(税込): 
¥7,549
著者: 
John Essick
ページ
688 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
192 x 236 mm
刊行日
2015年10月
Hands-On Introduction to LabVIEW for Scientists and Engineers, Third Edition, explores practical programming solutions for carrying out interesting and relevant projects. Readers-who are assumed to ha ... 続きを読む

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Hands-On Introduction to LabVIEW for Scientists and Engineers (4th edition)

ISBN : 9780190853068

参考価格(税込): 
¥7,549
著者: 
John Essick
ページ
720 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
191 x 235 mm
刊行日
2018年06月
Departing from the style of typical manuals, Hands-On Introduction to LabVIEW for Scientists and Engineers, Fourth Edition, uses a learn-by-doing approach to guide students through using this powerful ... 続きを読む

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High-resolution Electron Microscopy (4th edition)

ISBN : 9780199668632

参考価格(税込): 
¥17,215
著者: 
John C.H. Spence
ページ
432 ページ
フォーマット
Hardcover
サイズ
177 x 246 mm
刊行日
2013年09月
This new fourth edition of the standard text on atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) retains previous material on the fundamentals of electron optics and aberration correction, lin ... 続きを読む

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High-Resolution Electron Microscopy (4th Revised edition)

ISBN : 9780198795834

参考価格(税込): 
¥6,275
著者: 
John C. H. Spence
ページ
432 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
171 x 246 mm
刊行日
2016年12月
This new fourth edition of the standard text on atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) retains previous material on the fundamentals of electron optics and aberration correction, lin ... 続きを読む

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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (2nd edition)

ISBN : 9780198754756

参考価格(税込): 
¥8,510
著者: 
C. Julian Chen
ページ
488 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
156 x 234 mm
刊行日
2015年12月
シリーズ
Monographs on the Physics and Chemistry of Materials
The scanning tunneling microscope and the atomic force microscope, both capable of imaging and manipulating individual atoms, were crowned with the Nobel Prize in Physics in 1986, and are the cornerst ... 続きを読む

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Microscopy: A Very Short Introduction

ISBN : 9780198701262

参考価格(税込): 
¥1,598
著者: 
Terence Allen
ページ
152 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
108 x 171 mm
刊行日
2015年05月
シリーズ
Very Short Introductions
Describes the scientific principles behind the main forms of microscopy Outlines the exciting new developments and technological advances in the field Explores the history and background of maj ... 続きを読む

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You're Hired! Now What?

ISBN : 9780878939633

参考価格(税込): 
¥2,862
著者: 
Mohamed A. F. Noor
ページ
96 ページ
フォーマット
Paperback
サイズ
152 x 227 mm
刊行日
2012年05月
You're Hired! Now What? is a short, conversationally written handbook describing challenges and specific strategies to get ahead (or at least get by) in an academic setting. New college faculty are we ... 続きを読む

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